近日，国家自然科学基金委员会公布了2025年度国家自然科学基金区域创新发展联合基金项目评审结果，我院倪天明教授牵头申报的国家自然科学基金区域联合重点项目—“面向大尺寸芯片量产良率的AI辅助可诊断性设计与缺陷根因分析关键技术研究”正式获批，这是学院首次牵头获批国家自然科学基金重点类项目，标志着我校在集成电路测试领域迈出重要一步。
该项目瞄准我国高端芯片制造领域的关键瓶颈问题，融合人工智能技术，研究面向大尺寸芯片的可诊断性设计方法和缺陷根因分析技术，可以缩短大尺寸芯片量产良率的爬坡周期，为我国高端芯片制造产业链提供自主可控的核心技术支撑。
集成电路学院始终高度重视科研创新与学科建设，聚焦国家战略需求与区域发展需要，不断加大对新兴交叉学科的支持力度。此次倪天明教授团队获批联合基金重点项目，是学院推进学科振兴计划中学科交叉融合的重要成果，也彰显了学院在承担国家重点基础研究任务能力和科研水平方面迈上了新台阶。
（文：方旭州；预审：倪天明；审核：林信南）